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更新時(shí)間：2025-07-17 
瀏覽次數(shù)：755費(fèi)希爾測(cè)厚儀DualScope DMP20信息測(cè)量原理與核心性能
測(cè)量原理
菲希爾 DualScope DMP20 測(cè)厚儀整合兩種經(jīng)典測(cè)量技術(shù)，滿足不同基材與涂層的檢測(cè)需求：
磁感應(yīng)法：遵循 DIN EN ISO 2178 標(biāo)準(zhǔn)，針對(duì)鐵、鋼等磁性金屬基材，通過(guò)檢測(cè)涂層對(duì)磁場(chǎng)的影響，精準(zhǔn)計(jì)算非磁性涂層（如油漆、鍍鉻層）的厚度。
電渦流法：依據(jù) DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)，適用于鋁、銅等非磁性金屬基材，利用涂層厚度對(duì)電渦流強(qiáng)度的干擾特性，測(cè)量非導(dǎo)電涂層（如陽(yáng)極氧化膜、塑料涂層）的厚度。
核心測(cè)量性能
范圍與精度：測(cè)量范圍隨探頭及材料組合靈活變化，覆蓋多種涂層厚度需求；精度達(dá) ±(1% 讀數(shù) + 1µm)，確保數(shù)據(jù)可靠。
分辨率：最小分辨率為 0.1µm，可捕捉涂層厚度的微小差異，滿足高精度檢測(cè)場(chǎng)景。
探頭適配性：支持多種可更換數(shù)字探頭，兼容 F 系列探頭（需 DMP-F 適配器），適配平面、曲面、小孔等復(fù)雜工件的測(cè)量需求。
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