SURTRONIC DUO地板粗糙度測量儀
型號：SURTRONIC DUO
探頭系統(tǒng)：探頭系統(tǒng)
表面粗糙度測量范圍：199μm，40μm
掃描路徑：5mm
表面粗糙度分辨率：0.01μm
閾值波長：0.8 mm

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2019-12-23
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產(chǎn)品詳情

SURTRONIC DUO地板粗糙度測量儀

型號：SURTRONIC DUO
探頭系統(tǒng)：探頭系統(tǒng)
表面粗糙度測量范圍：199μm，40μm
掃描路徑：5mm
表面粗糙度分辨率：0.01μm
閾值波長：0.8 mm
數(shù)據(jù)傳輸類型：USB

篤摯儀器代理的英國泰勒霍普森粗糙度測量裝置SURTRONIC DUO，具有內(nèi)部進(jìn)料單元的移動粗糙度測量裝置，小巧便攜，通用功能，用戶友好的界面，適合地板等表面粗糙度測量。

應(yīng)用：
用戶友好的移動粗糙度測量裝置，用于參數(shù)Ra，Rz，Rp，Rv，Rt，Rz1max，R3z（戴姆勒DB N 31007），Rsk，Rq和Rku的標(biāo)準(zhǔn)粗糙度測量。

執(zhí)行：
3.7“彩色液晶顯示屏，zui多顯示4個測量值
拆分顯示和進(jìn)紙單元
兩臺機(jī)器之間的藍(lán)牙連接（zui大距離2米）
粗糙度參數(shù)符合DIN ISO和ASME標(biāo)準(zhǔn)
顯示主要輪廓/參數(shù)Pa，Pz，Pp，Pv和Pt
集成滑蓋式探頭，金剛石為5μm
可以通過迷你USB端口充電